20/30 PV 多用途顯微光譜儀
美國CRAIC公司最新研發的20/30 PV光譜儀集成系統為紫外-可見-近紅外顯微光譜學設定了一個新的標準。使用最前沿技術的20/30 PV不僅可以讓用戶測試微米級樣品的吸收、反射、拉曼、螢光激發或其他光源類型下的光譜,還同時提供了數位成像功能。光譜測試的范圍從深紫外到近紅外,同時也提供全波段的成像。具備先進的光譜及圖像分析軟體、自動化的參數設置、簡單易用、能長時間穩定工作等優良特性。 20/30 PV是工廠產品檢測以及實驗室樣品分析的完美工具。
目前CRAIC系列分光光度計已用于煤炭,石油,地質,礦物學,生物學,半導體科學,光電行業面板量測,材料科學,工業品質控制及刑事鑒定科學、紡織行業等。
目前CRAIC系列分光光度計已用于煤炭,石油,地質,礦物學,生物學,半導體科學,光電行業面板量測,材料科學,工業品質控制及刑事鑒定科學、紡織行業等。
多用途顯微光譜儀
可量測穿透、反射、螢光、拉曼等光譜
可依需求客制化
Types of Microspectroscopy | UV-vis-NIR absorbance, reflectance, fluorescence, photoluminescence, polarisation |
Raman Microspectroscopy | Apollo II? |
Thin Film Thickness | Film thickness ranges from 15 nm and up |
Micro-kinetics | Available |
5D Mapping | Available |
Micro-colorimetry | Available |
Microspectometer Spectral Range | 200 - 2500 nm |
Microscope Imaging Range | Deep ultraviolet, color and near infra-red |
Fluorescence Excitation | 250 - 546 nm |
Fluorescence Emission | 300 - 1000 nm |
Spectrometer Model | Lightblades? |
Detectors | Scientific grade CCD and InGaAs arrays |
Detector Cooling | Thermoelectric |
Spectral Resolution | User selectable, 1 - 15 nm |
Sampling Area | Variable, 1 - 10,000 microns2 |
Operating System | Windows |